半导体测试设备主要包括三类：ATE、探针台、分选机。其中测试功能由测试机
2023-12-04 17:30
探针测试台是一种用于测试集成电路（IC）的设备，工作原理是将待测试的IC芯片安装在测试座上，然后通过
2024-02-04 15:14
晶圆测试的方式主要是通过测试机和探针台的联动，在测试过程中，测试机台并不
2023-05-11 14:35
探针卡是半导体晶圆测试过程中需要使用的重要零部件，被认为是测试设备的“指尖”。由于每一种芯片的引脚排列、尺寸、间距变化、频率变化、
2023-05-08 10:38
CASCADE探针台是一种高级的网络分析工具，可以在网络中捕获和分析数据流量。它可以帮助企业识别和解决网络性能问题、网络安全问题以及网络优化等方面的挑战。CASCADE探针台
2024-01-31 14:41
ATE = Automatic Test Equipment. 是自动化测试设的缩写，于半导体产业意指集成电路(IC)自动测试机， 用于检测集成电路功能之完整性， 为集成电路生产制造之最后流程， 以确保集成电路生产制
2022-11-01 15:02
传统意义的半导体测试指基于ATE机台的产品测试，分为wafer level的CP测试(chip probing）或FE测试
2023-11-06 15:33
探针间距是指在电路板测试过程中，探针之间的中心到中心距离。在理想情况下，电路板应使用行业标准的100mil弹簧探针进行测试
2024-04-26 16:07
