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型号：WD4000系列 品牌：中图仪器
WD4000半导体晶圆几何表面形貌检测设备兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。它通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度
2025-01-06 14:34 中图仪器 企业号
型号：华太<b class='flag-s-7'>半导体</b> 品牌：
咨询请看首页华太半导体（HOTTEK-SEMI）是一家专业电容式触控方案设计公司，拥有专业软件研发团队。HOTTEK-SEMI推出的新一代触摸MCU性能卓越：可多次重复编程（MTP），防水，抗干扰强
2025-05-20 16:11 华太半导体（深圳）有限公司 企业号
型号：L-V150D 品牌：
氟化硫、乙烯、氨气等约20种气体的泄漏检测。气体检测泄露热像仪采用远距离、非接触式的检测方式，极大提高了气体泄漏的检测效率，保障
2021-12-20 10:46 灵蜂智能红外热像仪 企业号
中图仪器WD4000无图晶圆膜厚检测设备自动测量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。系统采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D
2024-07-18 14:57 中图仪器 企业号
型号：DOT800T 品牌：
、集成化、大功率、低功耗是功率半导体的主要发展方向，这些趋势也对自动化测试设备提出了更高的要求。SPEA长期深耕半导体测试行业，持续探索并突破核心检测技术，公司出品的
2022-09-16 15:36 SPEA 企业号
型号：WD4000 品牌：中图仪器
WD4000半导体晶圆检测设备自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI
2023-10-19 11:08 中图仪器 企业号
型号：IGBT及第三代<b class='flag-s-7'>半导体</b>器件全参数测试 品牌：广电计量
服务范围MOSFET、IGBT、DIODE、BJT，第三代半导体器件等分立器件，以及上述元件构成的功率模块。检测标准l AEC-Q101分立器件认证l MIL-STD-750
2024-01-29 22:00 广电计量 企业号
WD4000半导体晶圆量测设备采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反应
2024-09-09 16:30 中图仪器 企业号
WD4000半导体无图晶圆形貌检测设备集成厚度测量模组和三维形貌 、粗糙度测量模组，非接触厚度 、三维维纳形貌一体测量。通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度
2024-05-10 10:07 中图仪器 企业号
中图仪器WD4000半导体晶圆形貌检测机通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。WD4000
2024-09-19 11:39 中图仪器 企业号
