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型号：华太<b class='flag-s-7'>半导体</b> 品牌：

咨询请看首页华太半导体（HOTTEK-SEMI）是一家专业电容式触控方案设计公司，拥有专业软件研发团队。HOTTEK-SEMI推出的新一代触摸MCU性能卓越：可多次重复编程（MTP），防水，抗干扰强

2025-05-20 16:11 华太半导体（深圳）有限公司 企业号

型号：GD32F103RCT6是国产<b class='flag-s-7'>半导体</b>公司国民<b class='flag-s-7'>技术</b>(GigaD 品牌：

GD32F103RCT6: 国产单片机新力军 GD32F103RCT6是国产半导体公司国民技术(GigaDevice)推出的一款32位ARM Cortex-M3内核单片机。作为GD32系列

2024-04-09 23:30 深圳市华沣恒霖电子科技有限公司 企业号

型号：WD4000系列 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

中图仪器WD4000半导体无图晶圆Wafer厚度测量系统自动测量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅

2024-08-09 15:07 中图仪器 企业号

型号：WD4000系列 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

半导体晶圆形貌检测机采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、

2024-09-19 11:39 中图仪器 企业号

型号：WD4000 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

。WD4000半导体晶圆wafer厚度测量设备采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，实现晶圆厚度、TTV、L

2024-09-06 16:52 中图仪器 企业号

型号：WD4000 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

WD4000半导体无图晶圆形貌检测设备集成厚度测量模组和三维形貌 、粗糙度测量模组，非接触厚度 、三维维纳形貌一体测量。通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度

2024-05-10 10:07 中图仪器 企业号

型号：WD4000系列 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

WD4000半导体晶圆量测设备采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、War

2024-09-09 16:30 中图仪器 企业号

型号：IGBT及第三代<b class='flag-s-7'>半导体</b>器件全参数测试 品牌：广电计量

服务范围MOSFET、IGBT、DIODE、BJT，第三代半导体器件等分立器件，以及上述元件构成的功率模块。检测标准l  AEC-Q101分立器件认证l  MIL-STD-750

2024-01-29 22:00 广电计量 企业号

型号：WD4000系列 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

WD4000半导体无图晶圆几何形貌检测机可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的厚度、粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。自动测量Wafer厚度、表面粗糙度

2024-05-27 10:46 中图仪器 企业号

型号：WD4000系列 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

中图仪器WD4000半导体晶圆厚度量测系统通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。它自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1

2024-11-14 13:42 中图仪器 企业号