随着半导体工艺复杂度提升，可靠性要求与测试成本及时间之间的矛盾日益凸显。晶圆级可靠性（Wafer Level Reliability, WLR）技术通过直接在未
2025-05-07 20:34
高可靠性系统设计包括使用容错设计方法和选择适合的组件，以满足预期环境条件并符合标准要求。本文专门探讨实现高可靠性电源的半导体解决方案，这类电源提供冗余、电路保护和远程系统管理。本文将突出显示，
2021-03-18 07:49
，封装也是影响产品可靠性的重要因素。基本半导体碳化硅分立器件采用AEC-Q101标准进行测试。目前碳化硅二级管产品已通过AEC-Q101
2023-02-28 16:59
qualification recipe）即可。由于长期的业界经验和可靠性模型的验证，人们现在可以接受将基于标准的测试用于硅材料的做法，不过也有例外的情况。功率金属氧化物半导体场效应晶体管
2018-09-10 14:48
本帖最后由 eehome 于 2013-1-5 09:45 编辑 新人求助：请大侠帮助说明半导体可靠性中TC 与年份的计算法则？？{:4_95:}
2012-12-19 10:10
如果基于GaN的HEMT可靠性的标准化测试方法迫在眉睫，那么制造商在帮助同时提供高质量GaN器件方面正在做什么？ GaN高电子迁移率晶体管（HEMT）由于其极高的耐高温性和高功率密度而在
2020-09-23 10:46
印刷电路板上的半导体封装。在大多数 BGA 中，半导体芯片和封装基板是通过金线键合连接的。这些封装基板和主板通过焊球连接
2021-07-09 10:29
各位大爷觉得可靠性测试有没有必要做？
2016-07-07 17:25
•芯片级失效分析方案turnkey•芯片级静电防护测试方案制定与平台实验设计•静电防护失效整改技术建议•集成电路可靠性验证•材料分析技术支持与方案制定半导体材料分析手法业务咨询及技术交流：李绍政 lisz@grgte
2020-04-26 17:03
高可靠性系统设计包括使用容错设计方法和选择适合的组件，以满足预期环境条件并符合标准要求。本文专门探讨实现高可靠性电源的半导体解决方案，这类电源提供冗余、电路保护和远程系统管理。本文将突出显示，
2019-07-25 07:28
