在半导体器件中，常见的一些加速因子为温度、湿度、电压和电流。 在大多数情况下，加速测试不改变故障的物理特性，但会转移观察时间。 加速条件和正常使用条件之间的转移称为“降额”。那么半导体
2023-07-13 14:47
半导体可靠性测试主要是为了评估半导体器件在实际使用过程中的可靠性和稳定性。这些测
2023-12-20 17:09
可靠性测试是半导体器件测试的一项重要测试内容，确保半导体器件的性能和稳定
2023-11-09 15:57
本文将介绍半导体的可靠性测试及标准。除了详细介绍如何评估和制定相关标准以外，还将介绍针对半导体封装预期寿命、半导体封装在
2024-01-13 10:24
NI宣布收购 SET GmbH(简称“SET”)。SET是长期专注于航空航天和国防测试系统开发的专家，也是功率半导体可靠性测试领域的创新者。加入NI后，将共同缩短关键的
2023-03-15 17:42
半导体可靠性测试系统领导厂商思达科技，宣布一体化SMU-per-pin测试系统—思达冥王星STAr Pluto-hiVIP，已获得
2022-03-24 15:15
半导体集成电路的可靠性评价是一个综合性的过程，涉及多个关键技术和层面,本文分述如下：可靠性评价技术概述、可靠性评价的技术
2025-03-04 09:17
