在半导体器件中，常见的一些加速因子为温度、湿度、电压和电流。 在大多数情况下，加速测试不改变故障的物理特性，但会转移观察时间。 加速条件和正常使用条件之间的转移称为“降额”。那么半导体
2023-07-13 14:47
半导体可靠性测试主要是为了评估半导体器件在实际使用过程中的可靠性和稳定性。这些测
2023-12-20 17:09
可靠性测试是半导体器件测试的一项重要测试内容，确保半导体器件的性能和稳定
2023-11-09 15:57
本文将介绍半导体的可靠性测试及标准。除了详细介绍如何评估和制定相关标准以外，还将介绍针对半导体封装预期寿命、半导体封装在
2024-01-13 10:24
随着半导体工艺复杂度提升，可靠性要求与测试成本及时间之间的矛盾日益凸显。晶圆级可靠性（Wafer Level Reliability, WLR）技术通过直接在未封装晶圆
2025-05-07 20:34
高可靠性系统设计包括使用容错设计方法和选择适合的组件，以满足预期环境条件并符合标准要求。本文专门探讨实现高可靠性电源的半导体解决方案，这类电源提供冗余、电路保护和远程系统管理。本文将突出显示，
2021-03-18 07:49
NI宣布收购 SET GmbH(简称“SET”)。SET是长期专注于航空航天和国防测试系统开发的专家，也是功率半导体可靠性测试领域的创新者。加入NI后，将共同缩短关键的
2023-03-15 17:42
半导体可靠性测试系统领导厂商思达科技，宣布一体化SMU-per-pin测试系统—思达冥王星STAr Pluto-hiVIP，已获得
2022-03-24 15:15
