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型号：华太<b class='flag-s-7'>半导体</b> 品牌：

咨询请看首页华太半导体（HOTTEK-SEMI）是一家专业电容式触控方案设计公司，拥有专业软件研发团队。HOTTEK-SEMI推出的新一代触摸MCU性能卓越：可多次重复编程（MTP），防水，抗干扰强

2025-05-20 16:11 华太半导体（深圳）有限公司 企业号

型号：WD4000 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

中图仪器WD4000半导体晶圆wafer厚度测量设备通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷

2024-09-06 16:52 中图仪器 企业号

型号：WD4000系列 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

WD4000半导体晶圆量测设备采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反应

2024-09-09 16:30 中图仪器 企业号

型号：WD4000 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

WD4000半导体无图晶圆形貌检测设备集成厚度测量模组和三维形貌 、粗糙度测量模组，非接触厚度 、三维维纳形貌一体测量。通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度

2024-05-10 10:07 中图仪器 企业号

型号：WD4000系列 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

中图仪器WD4000系列半导体晶圆表面形貌量测设备通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷

2025-04-21 10:49 中图仪器 企业号

型号：WD4000 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

中图仪器WD4000半导体晶圆几何形貌量测设备兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。它通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度

2024-09-29 16:54 中图仪器 企业号

型号：WD4000系列 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

中图仪器WD4000半导体晶圆Warp翘曲度量测设备通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷

2024-05-31 10:35 中图仪器 企业号

型号：WD4000系列 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

中图仪器WD4000半导体晶圆制程几何尺寸量测设备通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。它

2024-10-17 11:22 中图仪器 企业号

型号：HS-DSC-101A 品牌：

产品介绍:  差示扫描量热仪是一种测量参比端与样品端的热流差与温度参数关系的热分析仪器，主要应用于测量物质加热或冷却过程中的各种特征参数：玻璃化转变温度Tg、氧化诱导期OIT、熔融温度、结晶温度、比热容及热焓等。主要特点:1.全新的炉体结构，确保解析度和分辨率的基线稳定性2.数字式气体质量流量计，控制吹扫气体流量，数据直接记录在数据库中3

2021-07-07 16:51 和晟仪器 企业号

型号：WD4000 品牌：中<b class='flag-s-7'>图</b>仪器

WD4000半导体晶圆检测设备自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI

2023-10-19 11:08 中图仪器 企业号