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型号:华太<b class='flag-s-7'>半导体</b> 品牌:
咨询请看首页华太半导体(HOTTEK-SEMI)是一家专业电容式触控方案设计公司,拥有专业软件研发团队。HOTTEK-SEMI推出的新一代触摸MCU性能卓越:可多次重复编程(MTP),防水,抗干扰强
2025-05-20 16:11 华太半导体(深圳)有限公司 企业号
型号:HS-DSC-101A 品牌:
产品介绍: 差示扫描量热仪是一种测量参比端与样品端的热流差与温度参数关系的热分析仪器,主要应用于测量物质加热或冷却过程中的各种特征参数:玻璃化转变温度Tg、氧化诱导期OIT、熔融温度、结晶温度、比热容及热焓等。主要特点:1.全新的炉体结构,确保解析度和分辨率的基线稳定性2.数字式气体质量流量计,控制吹扫气体流量,数据直接记录在数据库中3
2021-07-07 16:51 和晟仪器 企业号
型号:IGBT及第三代<b class='flag-s-7'>半导体</b>器件全参数测试 品牌:广电计量
服务范围MOSFET、IGBT、DIODE、BJT,第三代半导体器件等分立器件,以及上述元件构成的功率模块。检测标准l AEC-Q101分立器件认证l MIL-STD-750
2024-01-29 22:00 广电计量 企业号
型号:JY-V640 品牌:
JY-V640是一款面向半导体制造业开发的半导体RFID读写器,抗周围金属影响的能力强、抗CID载体性能变化能力强、抗外来干扰能力强的特点,支持TI系列标签,兼容TI公司产的CID载体,具有出色的耐
2022-07-19 11:31 健永科技 企业号
型号:WD4000系列 品牌:中图仪器
中图仪器WD4000半导体晶圆形貌检测机通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度,TTV,BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。WD4000
2024-09-19 11:39 中图仪器 企业号
型号:SuperView W1 品牌:
、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。 白光干涉仪在半导体的应用硅晶圆的粗糙度检测在半导
2022-04-07 15:22 中图仪器 企业号
表面形貌的参数。非接触测量方式在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。WD4000半导体晶圆量测设备兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数
2024-09-09 16:30 中图仪器 企业号
型号:TXLink 品牌:泰芯<b class='flag-s-7'>半导体</b>
泰芯TXLink调试器MCU单片机开发工具仿真器 TXLink是珠海泰芯半导体有限公司基于Keil在8051开发平台的调试器,目前支持泰芯
2022-10-27 18:53 Powsuns百赛思 企业号
中图仪器WD4000系列半导体晶圆表面形貌量测设备通过非接触测量,将晶圆的三维形貌进行重建,强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度,TTV,BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷
2025-04-21 10:49 中图仪器 企业号
,TTV,BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。 WD4000半导体晶圆几何表面形貌检测设备可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检
2025-01-06 14:34 中图仪器 企业号