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型号：SuperViewW系列 品牌：中图仪器
工作。SuperViewW1白光干涉三维表面测量系统广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器
2024-12-25 14:33 中图仪器 企业号
型号：WD4000 品牌：中图仪器
WD4000半导体晶圆表面三维形貌测量设备自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示
2023-10-23 11:05 中图仪器 企业号
表面的测量。SuperViewW系列白光干涉三维形貌仪轮廓仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、
2024-11-21 15:38 中图仪器 企业号
型号：SuperViewW1 品牌：中图仪器
）；几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征图形的位置和数量等等）。 SuperViewW白光三维光学轮廓测量仪广泛应用于半导体制造
2024-12-20 15:07 中图仪器 企业号
的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数。SuperViewW系列白光干涉仪三维表面测量系统可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、
2024-10-17 14:14 中图仪器 企业号
CHOTEST中图仪器SuperViewW1三维白光形貌干涉仪集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。主要应用于半导体
2023-08-08 11:27 中图仪器 企业号
单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。 SuperViewW纳米级白光干涉三维形貌分析测量仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其
2024-10-23 18:17 中图仪器 企业号
SuperViewW白光干涉三维形貌轮廓仪纳米级分辨率，非接触式测量各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，广泛应用于半导体制
2024-12-27 14:39 中图仪器 企业号
中图仪器SuperViewW白光干涉三维光学形貌仪基于白光干涉原理，以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工
2025-03-18 13:28 中图仪器 企业号
型号：Mars系列 品牌：中图仪器
中图Mars三维坐标检测仪器在三维空间上通过采集点的三维坐标来评定物体几何形状。采用的测量技术和精密的传感器，结合精密的机械结构和温度补偿系统，精度高、重复性优。不管是复杂的三
2025-03-21 16:56 中图仪器 企业号
