一、测试需求：功率器件如场效应晶体管(MOSFET)和绝缘双极晶体管[IGBT) ,这些功率器件提供了快速开关速度,能够
2021-05-20 11:17
半导体相比，损耗更低，高温环境条件下工作特性优异，有望成为新一代低损耗元件的“碳化硅（SiC）功率元器件”。SiC半导体已经开始实际应用，并且还应用在对品质可靠性要求很严苛的车载设备上。提起SiC，可能在
2018-11-29 14:39
DCT1401功率器件测试仪系统DCT1401功率器件测试仪系统能
2022-02-17 07:41
有关运放全功率带宽的问题，全功率带宽应该怎么测试？ADA4857和AD8479两款运放全功率带宽的测试
2023-11-21 08:21
功率半导体器件的使用者能够很好地理解重要功率器件(分立的和集成的)的结构、功能、特性和特征。另外，书中还介绍了功率
2025-07-11 14:49
射频网络分析仪（VNA）的测试条件设置直接影响测量结果的准确性和可靠性。以下从仪器配置、被测器件（DUT）特性、环境干扰、校准与验证四个维度，系统梳理关键注意事项及解决方案。一、仪器配置与参数设置
2025-05-06 16:02
半导体相比，损耗更低，高温环境条件下工作特性优异，有望成为新一代低损耗元件的“碳化硅（SiC）功率元器件”。提及功率元器件
2018-11-28 14:34
现代宽禁带功率器件 (SiC, GaN) 上的开关晶体管速度越来越快，使得测量和表征成为相当大的挑战。与 HTRB高温偏置试验一 一对应，AQG324 该规定了动态偏置试验，即动态高温反偏（DHRB
2024-10-17 17:09
测试时相当的费时。目前主流的测试方案是使用IC teSTer测试系统，此系统高速、高效但十分的昂贵。因此，在保证测试速度和精度的
2019-06-05 08:12
、SMA、TRAX、HVTRAX等多种测试接口，轻松对接各类测试环境。 直流、脉冲、高压、大电流、高频探针均可灵活配置，覆盖各类功率器件的
2025-07-29 16:21
