本文通过对典型案例的介绍，分析了键合工艺不当，以及器件封装因素对器件键合失效造成的影响。通过对键合工艺参数以及封装环境因素影响的
2023-07-26 11:23
电测在失效分析中的作用 重现失效现象，确定失效模式，缩小故障隔离区，确定失效定位的激励条件，为进行信号寻迹法
2024-04-12 11:00
电子元器件在使用过程中，常常会出现失效和故障，从而影响设备的正常工作。文本分析了常见元器件的失效原因和常见故障。
2016-06-14 11:18
本文通过大量的历史资料调研和失效信息收集等方法，针对不同环境应力条件下的MEMS惯性器件典型失效模式及失效机理进行了深入探讨和分
2018-05-21 16:23
SiC 功率 MOSFET 和肖特基二极管正在快速应用于电力电子转换半导体 (PECS) 应用，例如电动汽车充电和牵引、储能系统和工业电源。SiC 功率 MOSFET 已在电动汽车车载充电器中得到
2023-12-15 09:42
对电子元器件的失效分析技术进行研究并加以总结。方法 通过对电信器类、电阻器类等电子元器件的失效原因、
2018-01-30 11:33
IGBT及其派生器件，例如：IGCT，是MOS和双极集成的混合型半导体功率器件。因此，IGBT的失效模式，既有其子器件
2018-06-20 14:51
元件的失效直接受湿度、温度、电压、机械等因素的影响。
2022-08-19 11:25
