RF射频测试座是几个部分构成，首先是测试座外壳+测试座常规探针+RF射频
2023-05-17 10:07
TSOP48 IC引脚间距0.5mm 编程座 测试座 老化座 用于TSOP48的IC芯片进行烧写、测试，IC体宽18.
2019-12-18 11:09
TSOP56 IC引脚间距0.5mm 编程座 测试座 老化座 用于TSOP56的IC芯片进行烧写、测试 型号 OTS
2019-12-18 11:19
SSOP64 TSSOP64 IC引脚间距0.5mm 编程座 测试座 用于SSOP64的IC芯片进行烧写、测试 型号 OTS-64-0.5-01 产品简介 产品用途 编
2019-12-17 15:54
QFN16 MLP16 MLF16 IC引脚间距0.5mm 编程座 测试座 用于QFN16的IC芯片进行烧写、测试，无中心脚 型号 QFN-16(24)B-0.5-
2019-12-04 13:49
SSOP16 TSSOP16 IC引脚间距0.65mm 编程座 测试座 用于SSOP16的IC芯片进行烧写、测试，IC体宽4.4mm 型号 OTS-16(28)-0
2019-12-17 14:05
SOP32 SOIC32 SO32 IC引脚间距1.27mm 编程座 测试座 用于SOP32的芯片进行烧写、测试，IC体宽11.25mm 型号 OTS-32-1.27-
2019-12-16 10:25
QFP32 PQFP32 TQFP32 引脚间距0.8mm 编程座 测试座 用于QFP32的IC芯片进行烧写、测试，IC体宽7×7mm 型号 OTQ-32-0.8-
2019-11-29 10:19
QFN10 MLP10 MLF10 IC引脚间距0.5mm 编程座 测试座 用于QFN10的IC芯片进行烧写、测试，有中心脚 型号 QFN-10(20)BT-0.5
2019-12-04 11:45
SOP32 SOIC32 SO32 IC引脚间距1.27mm 编程座 测试座 用于SOP32的芯片进行烧写、测试，IC体宽9.53mm 型号 OTS-32-1.27
2019-12-16 09:44
