光耦测试之频率篇
2012-07-19 11:26
本帖最后由 eehome 于 2013-1-5 09:44 编辑 光耦测试之频率篇(潮光光耦网整理编辑)2012-07-18
2012-12-11 13:43
集成电路输出、三端双向可控硅输出和光控继电器。在电路设计中以晶体管输出和高速集成电路输出使用居多，本次测试的光耦选用这两类为样品。
2012-07-19 16:40
2012-09-02 18:22
图中说明CL约为15pf，包括探头和杂散布线电容，它的具体作用是什么呢？
2018-12-28 15:44
