` 检测晶圆表面粗糙度，最常使用的是AFM(原子力显微镜)。传统的AFM样品规格需小于2cm*2cm，因此在检测时，都需破坏Wafer才能分析，却也造成这片晶圆后续无法进行其他实验分析。宜特引进
2019-08-15 11:43
高速PCB设计指南之（一~八 ）目录2001/11/21CHENZHI/LEGENDSILICON一、1、PCB布线2、PCB布局3、
2012-07-13 16:18
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2012-08-12 10:46
/25.html?elecfans_trackid=bbspost高速PCB设计 （一）、电子系统设计所面临的挑战 随着系统设计复杂性和集成度的大规模提高，电子系统设计师们正在从事100MHZ以上的电路设计
2015-05-05 09:30
在一般的非高速PCB设计中，我们都是认为电信号在导线上的传播是不需要时间的，就是一根理想的导线，这种情况在低速的情况下是成立的，但是在高速的情况下，我们就不能简单的认为其是一根理想的导线了，电信号
2019-05-30 06:59
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2012-08-20 11:33
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2013-12-07 11:48
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2012-08-20 15:59
