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  • SDRAM芯片可靠性验证

    批次特点;2)芯片高温爆裂,可能是芯片受潮或者是封装的原因(芯片内部金属导线无损伤,硅晶片被损坏)。3)

    2012-07-27 01:00

  • 高温电子设备给设计和可靠性带来的挑战

    范围内最严苛的精度和可靠性要求。封装考虑因素高温功能化硅的采用只相当于完成了一半的工作。在高温下进行芯片封装并将其连接至PCB绝非易事。

    2018-10-19 11:00

  • 单片机应用系统的可靠性可靠性设计

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    2021-01-11 09:34

  • 芯片IC可靠性测试、静电测试、失效分析

    芯片IC可靠性测试、静电测试、失效分析芯片可靠性验证 ( RA)芯片级预处理(PC) & MSL试验 、J-ST

    2020-04-26 17:03

  • 提供半导体工艺可靠性测试-WLR晶圆可靠性测试

    无需封装:热阻低,允许施加更高温度和大电流密度而不引入新失效机理;实时反馈:与工艺开发流程深度融合,工艺调整后可立即通过测试反馈评估可靠性影响;行业标准化:主流厂商均发布WLR技术报告,推动其成为工艺

    2025-05-07 20:34

  • 可靠性试验分类方法及试验标准

    气候环境中的高温、低温、高温高湿以及温度变化等情况,加速反应产品在使用环境中的状况,环境可靠性与电磁兼容试验中心(L7743)来验证其是否达到在研发、设计、制造中预期的质量目标,

    2017-01-20 09:59

  • 什么是高可靠性

    ` 本帖最后由 山文丰 于 2020-7-3 11:20 编辑 PCB可靠性是指“裸板”能够满足后续PCBA装配的生产条件,并在特定的工作环境和操作条件下,在一定的时期内,可以保持正常运行功能

    2020-07-03 11:18

  • 可靠性是什么?

    可靠性是什么?充实一下这方面的知识  产品、系统在规定的条件下,规定的时间内,完成规定功能的能力称为可靠性。  这里的产品可以泛指任何系统、设备和元器件。产品可靠性定义的要素是三个“规定”:“规定

    2015-08-04 11:04

  • 碳化硅功率器件可靠性芯片研发及封装篇

    要的实验项目。在高温环境下对门极长期施加电压会促使门极的性能加速老化,且MOSFET的门极长期承受正电压,或者负电压,其门极的门槛值VGSth会发生漂移。  封装环节的可靠性测试  除了芯片研发环节

    2023-02-28 16:59

  • 可靠性检技术及可靠性检验职业资格取证

    设计注意事项;3.9 电控机械动作器件:特性、选型指标、可靠性应用注意事项、失效机理;3.10 能量转换器件(开关电源、电源变换芯片、变压器):特性、选型指标;3.11 数字IC:分类、特性、选型指标

    2010-08-27 08:25