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型号：WD4000系列 品牌：中图仪器
WD4000晶圆三维形貌膜厚测量系统通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆
2025-09-11 16:41 中图仪器 企业号
型号：SuperViewW系列 品牌：中图仪器
SuperViewW1白光干涉三维表面测量系统以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。它集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平
2024-12-25 14:33 中图仪器 企业号
型号：VT6000系列 品牌：中图仪器
在材料生产检测领域中，共聚焦显微镜主要测量表面物理形貌，进行微纳米尺度的三维形貌分析，如3D表面形貌、2D的纵深形貌、轮廓（纵深、宽度、曲率、角度）、表面粗糙度等。与传统光学显微镜相比，它具有更高
2023-05-25 11:27 中图仪器 企业号
型号：WD4000 品牌：中图仪器
层析图像，实现Wafer厚度、翘曲度、平面度、线粗糙度、总体厚度变化(TTV)及分析反映表面质量的2D、3D参数。WD4000晶圆三维显微形貌测量系统通过非接触测量
2025-08-04 13:59 中图仪器 企业号
中图仪器SuperViewW系列白光干涉仪三维表面测量系统以白光干涉技术为原理结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸，可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率
2024-10-17 14:14 中图仪器 企业号
WD4000晶圆微纳三维形貌量测系统通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划
2024-12-02 11:20 中图仪器 企业号
WD4000晶圆微观三维形貌测量系统自动测量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。1、使用光谱共焦对射
2024-12-20 15:11 中图仪器 企业号
型号：Mars系列 品牌：中图仪器
中图Mars三维坐标检测仪器在三维空间上通过采集点的三维坐标来评定物体几何形状。采用的测量技术和精密的传感器，结合精密的机械结构和温度补偿系统，精度高、重复性优。不管是
2025-03-21 16:56 中图仪器 企业号
中图仪器Mars高精度三坐标三维测量机采用的测量技术和精密的传感器，结合精密的机械结构和温度补偿系统，精度高、重复性优。不管是复杂的三维形状还是细微的尺寸差异，每一次测
2024-09-26 16:28 中图仪器 企业号
WD4000晶圆厚度表面粗糙度微纳三维形貌量测系统采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR
2024-07-11 10:39 中图仪器 企业号
