一种全新的深亚微米IC设计方法 本文分析了传统IC设计流程存在的一些缺陷，并且提出了
2009-12-27 13:28
一种数字集成电路测试系统的设计 随着数字集成电路的广泛应用，测试系统就显得越来越重要。在网络化集成电路可靠性试验及
2009-11-10 10:40
当下集成电路芯片测试座的制作方法有很多，但您需要一种高效、稳定、易操作的方法。
2023-05-24 09:32
集成电路封装测试是指对集成电路封装进行的各项测试，以确保封装的质量和性能符合要求。封装
2023-05-25 17:32
分析了在超深亚微米阶段，串扰对高性能芯片设计的影响，介绍了消除串扰影响的方法。 关键词：串扰，布线，关键路径，
2009-05-05 20:59
如何用集成电路芯片测试系统测试芯片老化？ 集成电路芯片老化测试系统是一种
2023-11-10 15:29
1 深亚微米 BiCMOS[B] 技术 器件进入深亚微米特征尺
2018-03-16 10:29
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2017-12-20 11:33
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2018-05-11 15:29
随着半导体技术的快速发展，集成电路（IC）的复杂性和集成度不断提高，对测试技术的要求也日益增加。深度学习算法作为一种强大的数据处理和模式识别工具，在
2024-07-15 09:48
