本文描述了一种通用的集成电路RF噪声抑制能力测量技术。RF抑制能力测试将电路
2019-07-04 06:21
和低功耗设计、设计验证、芯片测试和可测性设计等主题，着重探讨了深亚微米数字集成电
2009-02-12 09:51
，而大型测试系统价格昂贵。本文介绍了为此项目研制的一种数字集成电路测试系统，可测电平范围达±32V，使用方便，且成本较低。 测试
2018-11-29 14:55
` 集成电路按生产过程分类可归纳为前道测试和后到测试；集成电路测试技术员
2011-12-02 10:20
集成电路(IC)的静电放电(ESD)强固性可藉多种测试来区分。最普遍的测试类型是人体模型(HBM)和充电器件模型(CDM)。什么是小尺寸
2019-08-07 08:17
产品设计必不可少的一个环节。本文介绍了一种通用的RF抑制能力测量技术－RF电波暗室测量装置，描述了它的组成和操作方式，并给出了实际测量结果的例子。现在大多数蜂窝电话采用的无线技术是时分多址(TDMA)，这种
2019-06-03 06:07
本帖最后由 eehome 于 2013-1-5 09:46 编辑 片上系统(SOC——System-On-a-Chip)是指在单芯片上集成微电子应用产品所需的全部功能系统，其是以超深
2011-09-27 11:46
生产商也要考虑自己产品电磁兼容方面的问题。 集成电路电磁兼容的标准化 由于集成电路的电磁兼容是一个相对较新的学科，尽管对于电子设备及子系统已经有了较详细的电磁兼容标准，但对于集
2014-11-17 09:49
实际的测试中,它不需要借助于复杂和昂贵的测试设备,并且提供一种独立于电路板技术的测试方法。采用边界扫描
2018-09-10 16:50
(layout data)。集成电路设计技术实现的是一种转换:把通讯、计算机等学科领域知识通过微电子 技术转换成提高人类现实生活质量的电子类产品。如果说集成电路技术推动
2018-05-04 10:20
