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2010-06-07 11:01
摘要：就超深亚微米集成电路中高K栅介质、金属栅、cU／低K互连等相关可靠性热点问题展开讨论．针对
2010-04-27 14:13
数字集成电路分析与设计:深亚微米工艺免费下载。
2021-05-12 14:52
超深亚微米IC设计中的天线效应李蜀霞 刘辉华 赵建明 何春(电子科技大学电子电子科学技术研究院 成都 610054)【摘要】本文主要分析了
2009-12-19 14:54
一种全新的深亚微米IC设计方法 本文分析了传统IC设计流程存在的一些缺陷，并且提出了
2009-12-27 13:28
集成电路测试是保证集成电路质量、发展的关键手段。CMOS 器件进入超深亚
2011-05-20 16:48
随着工艺的发展，器件阈值电压的降低，导致静态功耗呈指数形式增长。进入深亚微米工艺后，静态功耗开始和动态功耗相抗衡，已成为低功耗设计
2009-09-15 10:18
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2019-07-04 06:21
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2020-11-30 08:00
随着工艺的发展，器件阈值电压的降低，导致静态功耗呈指数形式增长。进入深亚微 米工艺后，静态功耗开始和动态功耗相抗衡，已成为低功耗设计一个不可忽视的因素
2009-09-15 10:18
